Наш университет

Научно-образовательный центр Нанотехнологии

  • 26 марта 2012, 12:00
  • Автор: nauch
  • Просмотров 4557

При полном или частичном цитировании гиперссылка на сайт www.vyatsu.ru обязательна!

История создания

 

Создание НОЦ Нанотехнологии было начато в 2010 году. Изначально центр создавался как возможность для объединения ученых разных научных школ и направлений ВятГУ на одной исследовательской площадке. НОЦ является инвестиционным объектом Федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы». Участие в данной программе позволяет университету создать у себя уникальный центр, оснащенный оборудованием мирового уровня, которого в регионе больше нет ни у одной организации.

 

8 июля 2011 года Министерством образования и науки РФ был утвержден перечень организаций – участников национальной нанотехнологической сети. Он представлен 50 организациями России, среди которых: «Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт», «Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов «Прометей», «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов», «Центральный научно-исследовательский институт химии и механики им. Д. И. Менделеева», «Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов» и другие. В их число вошел и Вятский государственный университет по направлению «Нанобиотехнологии».

 

Оснащение центра должно завершиться в ближайшее время. На следующие 5 лет предусмотрена диверсифицированная деятельность университета в составе национальной нанотехнологической сети  не только по направлению нанобиотехнологии, но и в направлениях: наноинженерия, нанохимия, функциональные наноматериалы и высокочистые вещества, функциональные наноматериалы для энергетики, конструкционные наноматериалы, композитные наноматериалы, нанотехнологии для систем безопасности и др.

 

Функциональные возможности центра

 

НОЦ Нанотехнологии оснащен новым современным научным оборудованием, позволяющим решить следующие прикладные исследовательские задачи.

 

Сканирующая электронная микроскопия

  • Исследование  топографии поверхности объектов, в т.ч. биологических, морфометрия структурных единиц, микрофотография в условиях высокого и низкого вакуума с детекцией вторичных и отраженных электронов, увеличение до х300000, разрешение до 3 нм.
  • Анализ химического состава образца с возможностью картирования исследуемой поверхности.

 

Сканирующая зондовая микроскопия

  • Исследование топографии поверхности образца, визуализация пространственного распределения свойств материала (фазовый контраст, распределение магнитных сил, электрических зарядов, локальных емкостей на поверхности образца), измерение рельефа поверхности с субнанометровым разрешением и построением трехмерных изображений в полу контактном режиме атомно-силовой микроскопии. Область сканирования 100х100 мкм, разрешение (X,Y,Z) 1х1х0,1 нм.
  • Исследование топографии поверхности образца, пространственного распределения коэффициента трения, отображение сопротивления растекания тока в контактном режиме атомно-силовой микроскопии. Область сканирования 100х100 мкм.
  • Создание микролитографии в контактном режиме атомно-силовой микроскопии. Область сканирования 5х5 мкм.

 

Просвечивающая (трансмиссионная) электронная микроскопия

  • Исследование морфологии и ультраструктуры микро- и нанообъектов. Увеличение до х1500000, разрешение 0,1 нм.
  • Анализ химического состава выделенных структур в режиме сканирующей просвечивающей электронной микроскопии. Увеличение до х1500000, разрешение 1 нм.
  • Получение дифракционной картины в режиме дифракции электронов.
  • Статистический анализ морфометрических параметров.

 

Масс-спектрометрия биомолекул

  • Анализ молекулярных масс широкого круга веществ биологического и искусственного происхождения, линейный режима регистрации. Предельное разрешение не хуже 5000 условных единиц.
  • Регистрация масс в режиме «Рефлектрона» с камерой столкновений. Предельное разрешение не хуже 20000 условных единиц.
  • Проведение идентификации протеинов посредством системы Mascot.

 

Оптическая микроскопия

  • Визуализация объектов в проходящем и падающем свете с увеличением до х1000, определение геометрических параметров, микрофотография.

 

Лазерный перенос нанообъектов

  • Исследование механических свойств биомолекул.
  • Перемещение нанообъектов в клетке.

 

Пробоподготовка образцов

  • Предварительная механическая подготовка проб для анализа (металлы, полупроводники, керамики и т.д.): прецизионная резка, шлифовка, полировка.
  • Ионная полировка образца для просвечивающей электронной микроскопии.
  • Вакуумное напыление толщиной до 30 нм: металла заказчика,  графита, платины.
  • Приготовление срезов быстро замороженных органов и тканей животных, человека и растений для микроскопического исследования, диапазон температур до  - 60оС, толщина срезов до 1 мкм.

 


 

Версия для печати

Научно-образовательный центр Нанотехнологии

 

Контактная информация

 

Телефон/факс : (8332) 64-15-91

E-mail: litvinets@vyatsu.ru

Адрес : 610000, г. Киров, ул. Московская, д. 36, каб. 321

Руководитель центра: Литвинец Сергей Геннадьевич, к.с.-х.н., доцент

 

Рассмотрим любые предложения о сотрудничестве

 


 

 

 Приборный парк НОЦ Нанотехнологии включает:

 

Аналитический электронный микроскоп JEM-2100

фирмы JEOL, Япония

- увеличение х50 – х1500000

- разрешение 0,1 нм

- ускоряюще напряжение до 200 кВ

- система энергодисперсионного рентгеновского микроанализа Oxford

- объекты исследования: ультратонкие срезы различных материалов, микро-  и нано-частицы

Сканирующий электронный микроскоп JSM-6510 LV

фирмы JEOL, Япония

- увеличение х50 – х300000

- разрешение 3 нм

- ускоряюще напряжение до 30 кВ

- система энергодисперсионного рентгеновского микроанализа Oxford

- объекты исследования: шлифы, порошки, поверхности изломов, биологические пробы, пленки различного происхождения

Туннельный / атомно-силовой микроскоп Ntеgra Prima

ЗАО NT-MDT

 

 

- область сканирования (X,Y,Z) 100х100х10 мкм

- разрешение при исследовании топографии (X,Y,Z) 1х1х0,1 нм

- возможность 3-х мерного изображения поверхности образца

- возможность снятия магнитных, электрических, силовых характеристик

- объекты исследования: шлифы, порошки, поверхности изломов, биологические пробы, пленки различного происхождения

Масс-спектрометр времяпролетный AXIMA «Performance»

фирмы SHIMADZU Group Company, KRATOS Analytical, Великобритания

- детектирование молекулярных масс широкого круга веществ

- изучение структуры биомолекул и их фрагментов

- автоматизированный ввод проб

- лазер с частотой 10 Гц и длиной волны 337 нм

- прибор снабжен гелиевой камерой столкновения

- объекты исследования: растворы пептидов, белков, нуклеотидов, полисахаридов, гуминовых кислот, комплексных органических соединений и других веществ

Устройство пробоподготовки Leica EM TXP

фирмы Leica microsystems, Австрия

- прецизионная резка, шлифовка и полировка твердых материалов с использованием алмазного инструмента

- обработка поверхности в автоматическом режиме под различным углом, регулировка скорости (до 20000 об/мин) и шага подачи инструмента (до 0,5 мкм)

 

Вакуумная напылительная установка JEE-420

фирмы JEOL, Япония

- напыление углерода и различных металлов

- создаваемый вакуум 3.10-4 Ра

- установка образца под различными углами к источнику

- возможность вращения образца

Криостатический микротом Microm HM 525

фирмы Thermoscientific, Германия

- получение срезов органов и тканей животного и растительного происхождения, а также других материалов

 - толщина получаемых срезов от 1 до 500 мкм

- регулируемая температура заморозки образцов от +5оС до  -35оС, с элементом Пелтье - до -60оС

Устройство прецизионной ионной полировки PIPS

фирмы Gatan, США

- подготовка ультратонких фольг различных материалов путем ионного травления

-две ионных пушки Пеннинга с миниатюрными постоянными редкоземельными магнитами

- угол травления от +10° до -10°, независимая регулировка угла наклона каждой ионной пушки

- энергия ионного пучка от 1.5 до 6 кэВ

- размер образцов: диаметр 2.3  либо 3 мм.

Лазерный пинцет JPK Nano Tracker

фирмы JPK Instruments, Германия

- бесконтактное (неразрушающее) трехмерное наблюдение нанообъектов в режиме реального времени

- разрешение 30 нм

- контроль температуры от 20 до 600С